
















荷蘭FCD-Tech晶振具有SMD封裝和IDP封裝,具有2016mm~8045mm體積,基于連接到晶體諧振器的電子元件的負載的初始頻率,具有多種頻率容差供應客戶選擇.在一定溫度范圍內(nèi)的頻率容差,以及耐高溫度,ESR等效串聯(lián)電阻等重要參數(shù)為用戶提供多種選擇.
遙遙領先希華石英晶體諧振器隱知識解析,晶振電路無信號輸出?
步驟1-1。請檢查SMD晶振輸入端(Xin)和輸出端(Xout)的電壓,并檢查電壓是否符合IC規(guī)范。
步驟1-2。請卸載晶體,并使用專業(yè)測試機器測試其頻率和負載電容,看看它們是否振動并符合您的規(guī)格。您也可以將其發(fā)送給供應商,讓他們?yōu)槟M行測試。
步驟1-3。如果晶體不振動,其負載電容與您的規(guī)格不匹配,或者當前頻率與您的目標頻率之間存在巨大差距,請將晶體發(fā)送給您的供應商進行質(zhì)量分析。
步驟1-4。如果頻率和負載電容符合你的規(guī)格,但問題也存在。需要執(zhí)行振蕩電路評估。您也可以將其發(fā)送給供應商,讓他們?yōu)槟M行測試。
步驟1-5。下圖所示為一般振蕩電路,其中Cd和Cg為外部負載電容,Rf為反饋電阻,Rd為限流電阻。
負電阻(-R)是評價振蕩電路好壞的標準,其值至少應為晶振電阻的5倍,以維持穩(wěn)定的振蕩。因此,按照以下說明測量負電阻非常重要:
(1)將電阻(Rx)與晶體串聯(lián)
(2)從振蕩的起點到終點調(diào)整Rx的值。
(3)測量振蕩期間Rx的值。
(4)你將能夠獲得負電阻的值,|-R| = Rx + Re,Re =有效晶體電阻。
步驟1-6。如果IC的負電阻太低,無法驅(qū)動電路,我們提出三種解決方案來改善這種情況。
(1)降低限制電阻器(Rd)的值。但是,您還應該確認頻移和晶體驅(qū)動電流是否同時符合規(guī)格。
(2)降低外部電容(Cg和Cd)的值,采用負載電容(CL)較低的其他晶體。
(3)采用電阻(Rr)較低的晶體。遙遙領先希華石英晶體諧振器隱知識解析.
領先同行瑞薩石英晶體振蕩器的電路,振蕩器是任何微控制器系統(tǒng)的核心,因此在設計中應給予適當?shù)年P注,以確保設計盡可能可靠。
我們都可以設計一個正常工作的振蕩器,但要在所有元件的容差范圍內(nèi)設計一個能在生產(chǎn)中正常工作的振蕩器,卻需要一點努力。典型的瑞薩微控制器用戶手冊將提供一個或多個典型的振蕩器電路(通常由示例中使用的晶體或陶瓷諧振器的供應商推薦給瑞薩),以及等效振蕩器電路的簡單規(guī)格。
可靠振蕩所需的確切電路可能因OSC振蕩器而異,也可能受到電路板布局和環(huán)境條件的影響。在任何情況下,我們都強烈建議設計人員聯(lián)系所選的振蕩器供應商,向他們詢問適合其設計的推薦電路,并自行測試振蕩器,以確定所需的振蕩器電路參數(shù)。
對于許多應用,陶瓷諧振器可以提供良好的低成本解決方案;然而,如果需要更高的穩(wěn)定性和更精確的定時,晶體提供了最佳的解決方案。然而,在低功率應用中,Q值較高的晶體啟動時間要慢得多。事實上,頻率越低,啟動時間越長;一個32千赫的晶體可能需要1 - 3秒啟動。
在許多微控制器中,需要仔細考慮晶體漂移和穩(wěn)定性的影響,尤其是對于需要時鐘功能的應用;然而,振蕩器性能的知識可以允許在軟件中進行校正。
內(nèi)部反相器的輸出通過外部有源晶振電路反饋到其輸入端,形成一個不穩(wěn)定的反饋環(huán)路。當振蕩器的輸出延遲足以提供360°相位延遲時,穩(wěn)定的振蕩得以持續(xù)。晶體與負載電容C1和C2一起提供了一個調(diào)諧電路,可以穩(wěn)定振蕩頻率
Rf反饋電阻器-這在第一個逆變器周圍提供負反饋,并確保逆變器工作在其線性區(qū)域。這在晶體振蕩器中很少需要,但在使用陶瓷諧振器時經(jīng)常需要,以確保振蕩器正確啟動。建議典型值在1MOhm范圍內(nèi)。一些瑞薩微控制器有內(nèi)部反饋電阻。
Rd -阻尼電阻–這是一個串聯(lián)電阻,旨在防止振蕩器過激勵。通常,如果C1和C2選擇正確,這不是必需的。該電阻有幾個作用:穩(wěn)定反饋電路的相位,降低較高頻率下的環(huán)路增益;通過在逆變器輸出端放置Rd,輸出電阻增加,電流降低。Rd還與C2一起構成一個低通濾波器,可以大大減少不必要的振蕩模式。Rd的典型值在250 - 500歐姆范圍內(nèi)
C1和C2 -負載電容-負載電容與晶體或諧振器一起提供180°的相位滯后,共同提供啟動和維持振蕩的能量。
晶體或陶瓷諧振器的工作會受到一系列環(huán)境效應的影響,例如溫度和濕度,以及電路參數(shù),例如工作電壓。